Die Lasersensoren der Reihe optoNCDT 1420 werden auf eine neue Leistungsstufe gehoben. Mit verdoppelten Messraten, einer 16 Bit Digital/Analog-Wandlung und der Schutzartz IP67 sind sie nun die schnellsten Lasersensoren ihrer Klasse. Sie sind für Serienanwendungen der Advanced Automation prädestiniert. Klein, leistungsstark und schnell zeigen sich die Lasersensoren optoNCDT 1420, die für Advanced Automation Anwendungen auf […]
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Mit scanCONTROL Laserscannern werden Profilmessungen auf nahezu allen Oberflächen ermöglicht. Für die scanCONTROL LLT30xx-Serie sind ab sofort zwei neue Messbereiche verfügbar. Zusammen mit den neuen Modellen werden im Gesamtportfolio nun die Messbereiche von 10 bis 600 mm abgedeckt. Laserscanner von Micro-Epsilon erfassen, messen und bewerten Profile berührungslos auf unterschiedlichsten Objektoberflächen. Die neuen Modelle der Reihe […]
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Die Leistungsfähigkeit der scanCONTROL 3000 Laserscanner wurde gesteigert: Verbesserte Algorithmen und Komponenten erhöhen die Datenerfassung- und ausgabe auf bis zu 10 Mio. Messpunkte pro Sekunde. Bei den Smartsensoren erhöht sich die Profilberechnung und Auswertegeschwindigkeit um bis zu 60 %. Laser-Profil-Scanner von Micro-Epsilon zählen zu den leistungsstärksten Profilsensoren hinsichtlich Genauigkeit und Messrate. Die Leistungsfähigkeit der scanCONTROL […]
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Das Weißlicht-Interferometer IMS5420-TH eröffnet neue Perspektiven in der industriellen Dickenmessung von monokristallinen Siliziumwafern. Dank der breitbandigen Superlumineszenzdiode (SLED) kann das IMS5420-TH sowohl für undotierte, dotierte sowie für hochdotierte SI-Wafer eingesetzt werden. Der Dickenmessbereich erstreckt sich von 0,05 bis zu 1,05 mm. Die messbare Dicke von Luftspalten beträgt sogar bis zu 4 mm. Bei der Produktion […]
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Der colorSENSOR CFO250 ist ein leistungsstarker Farbsensor – ideal geeignet für die industrielle Farbprüfung in der laufenden Produktion, wenn hohe Geschwindigkeiten gefordert sind. Mit dem CFO250 reiht sich ein schneller Rohdatenlieferant in das leistungsstarke Controllerportfolio ein. Rohdaten können in Lab bzw. XYZ mit bis zu 500 Hz direkt an die SPS übertragen werden. Flanken- oder […]
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Der neue Laser-Distanzsensor optoNCDT ILR1171-125 wird für Distanzmessungen bis zu 270 m eingesetzt und überzeugt insbesondere bei Messaufgaben im Außenbereich. Dank Time-of-Flight Prinzip und hoher Messrate bis zu 40 kHz erreicht der robuste Sensor eine hohe Signalstärke und liefert damit auch bei Nebel und Regen stabile wie präzise Ergebnisse. Die hohe Temperaturstabilität erlaubt den Einsatz […]
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Die Lasersensoren der Reihe optoNCDT 1420 werden auf eine neue Leistungsstufe gehoben. Mit verdoppelten Messraten, einer 16 Bit Digital/Analog-Wandlung und der Schutzartz IP67 sind sie nun die schnellsten Lasersensoren ihrer Klasse. Sie sind für Serienanwendungen der Advanced Automation prädestiniert. Klein, leistungsstark und schnell zeigen sich die Lasersensoren optoNCDT 1420, die für Advanced Automation Anwendungen auf […]
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Mit scanCONTROL Laserscannern werden Profilmessungen auf nahezu allen Oberflächen ermöglicht. Für die scanCONTROL LLT30xx-Serie sind ab sofort zwei neue Messbereiche verfügbar. Zusammen mit den neuen Modellen werden im Gesamtportfolio nun die Messbereiche von 10 bis 600 mm abgedeckt. Laserscanner von Micro-Epsilon erfassen, messen und bewerten Profile berührungslos auf unterschiedlichsten Objektoberflächen. Die neuen Modelle der Reihe […]
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Die Leistungsfähigkeit der scanCONTROL 3000 Laserscanner wurde gesteigert: Verbesserte Algorithmen und Komponenten erhöhen die Datenerfassung- und ausgabe auf bis zu 10 Mio. Messpunkte pro Sekunde. Bei den Smartsensoren erhöht sich die Profilberechnung und Auswertegeschwindigkeit um bis zu 60 %. Laser-Profil-Scanner von Micro-Epsilon zählen zu den leistungsstärksten Profilsensoren hinsichtlich Genauigkeit und Messrate. Die Leistungsfähigkeit der scanCONTROL […]
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Das Weißlicht-Interferometer IMS5420-TH eröffnet neue Perspektiven in der industriellen Dickenmessung von monokristallinen Siliziumwafern. Dank der breitbandigen Superlumineszenzdiode (SLED) kann das IMS5420-TH sowohl für undotierte, dotierte sowie für hochdotierte SI-Wafer eingesetzt werden. Der Dickenmessbereich erstreckt sich von 0,05 bis zu 1,05 mm. Die messbare Dicke von Luftspalten beträgt sogar bis zu 4 mm. Bei der Produktion […]
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