Instrument Systems zeigt auf der SPIE Photonics West 2023 schnelle und hochauflösende Spektralradiometer in Kombination mit innovativen Kamerasystemen zur Vermessung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays. An Stand 4106 der SPIE Photonics West 2023 (USA) zeigt Instrument Systems seine Spektralradiometer der Premiumklasse sowie kombinierte Messlösungen mit absolut kalibrierten Kameras. Die spektral erweiterte 2D-Farbmesskamera LumiTop steht in […]
continue readingSpectral characterization of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays
At SPIE Photonics West 2023, Instrument Systems will be displaying fast, high-resolution spectroradiometers in combination with innovative camera systems for the measurement of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays. Munich, December 2022 – At booth 4106 at SPIE Photonics West 2023 (USA) Instrument Systems will be showcasing its premium-class spectroradiometers and combined measurement solutions with absolutely […]
continue readingInstrument Systems VCSEL analysis camera wins Photonics Award
Instrument Systems presented its new VTC 4000 infrared camera at Photonics West at the beginning of 2022. This camera has now received the “Laser Focus World Innovators Award 2022” in silver from a jury of experts from the photonics industry. The VTC 4000 VCSEL analysis camera was specially developed for the ultrafast, precise 2D near-field […]
continue readingVCSEL-Analysekamera von Instrument Systems gewinnt Photonik-Award
Instrument Systems präsentierte seine neue Infrarotkamera VTC 4000 Anfang 2022 auf der Photonics West. Eine Jury aus Experten der Photonik-Industrie zeichnete diese Kamera nun mit dem „Laser Focus World Innovators Award 2022“ in Silber aus. Die VCSEL-Analysekamera VTC 4000 ist speziell für die ultraschnelle und präzise 2D-Nahfeldanalyse von schmalbandigen Emittern, wie z.B. VCSEL oder Lasern, […]
continue readingLumiTop guarantees the quality of μLED arrays in AFS applications
Due to the intelligent combination of instantaneous spectroradiometric reference measurement and camera-based color- and brightness measurement, the LumiTop system from Instrument Systems is predestined for use in the quality inspection of µLED modules. At Light+Building in Frankfurt Hall 8.0 H38, Instrument Systems will be showcasing its spectrally exhanced LumiTop 4000 2D imaging colorimeter for testing […]
continue readingLumiTop gewährleistet Qualität von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen
Die intelligente Kombination aus instantaner spektralradiometrischer Referenzmessung und kamerabasierter Farb- und Helligkeitsmessung prädestiniert das LumiTop-System von Instrument Systems für die Qualitätsprüfung von µLED-Modulen. München, September 2022 – Instrument Systems zeigt auf der Light+Building in Frankfurt Halle 8.0 H38 seine spektral erweiterte 2D-Farbmesskamera LumiTop 4000 zur Prüfung von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen. Die 12 MP Kamera misst […]
continue readingInstrument Systems extends its core business segments Display Testing and Optical Measurement
Instrument Systems GmbH (Instrument Systems), a German manufacturer of high-precision spectroradiometers, cameras and complex display and light measurement systems, has extended its core business segments Display Testing and Optical Measurement through the acquisition of a Korean manufacturer of display measurement systems. A share purchase agreement has been signed to acquire a 100 % shareholding in […]
continue readingInstrument Systems verstärkt seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik
Instrument Systems GmbH (Instrument Systems), ein Münchner Hersteller von hochpräzisen Spektralradiometern, Kameras und komplexen Display- und Lichtmesssystemen, übernimmt koreanischen Hersteller von Displaymesssystemen, um seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik zu stärken. Der Kaufvertrag über den Erwerb von 100 % der Anteile an Kimsoptec Co., Ltd. (Kimsoptec), seit 2005 exklusiver Distributor des Instrument Systems Produktportfolios […]
continue readingNew CIE report on spectroradiometry
Under the scientific direction of Instrument Systems, the Technical Committee TC2-80 of the CIE has prepared a new technical report on the spectroradiometric measurement of optical radiation sources. The document, published as CIE 250:2022, supersedes the almost 40-year-old report CIE 063-1984. Practically oriented, it explains the basic measurement principles and provides practical instructions for the […]
continue readingNeuer CIE-Report zur Spektralradiometrie
Unter wissenschaftlicher Leitung von Instrument Systems hat das Technical Committee TC2-80 der CIE einen neuen Technischen Report zu spektralradiometrischen Messungen von optischen Strahlungsquellen erstellt. Das jetzt als CIE 250:2022 veröffentlichte Dokument löst den fast 40 Jahre alten Bericht CIE 063-1984 ab. Praxisorientiert erklärt er die grundlegenden Messprinzipien und gibt praktische Hinweise für die Messung von […]
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