Leading semiconductor test equipment supplier Advantest Corporation (TSE: 6857) has announced the newest cost-efficient, high-volume memory tester in its industry-leading T5800 product family. With its 5.4-Gbps operating speed and massive parallelism, the new T5835 system is a wide-coverage test solution for current and next-generation DRAM core and high-speed NAND devices. Interface speeds on both volatile […]
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Advantest Announces New Versatile, High-Throughput Test Solution for NAND/Nonvolatile Flash Memory ICs
Leading semiconductor test equipment supplier Advantest Corporation (TSE: 6857) has introduced a new high-throughput memory tester for NAND flash devices that can perform functional testing of chips while delivering highly accurate timing, repeatability and failure detection. With data-transfer speeds that are more than five times faster than its predecessor, the new T5221 system is designed […]
continue readingAdvantest Showcases Latest Semiconductor Test Solutions at SEMICON Europa 2021
Leading semiconductor test equipment supplier Advantest Corporation (TSE: 6857) will showcase their diverse portfolio of test solutions at SEMICON Europa, taking place on November 16-19 in Munich, Germany. This year’s SEMICON Europa trade show offers the opportunity for attendees to reconnect in person. At stand #B1.213 in Hall B1, visitors can find out more about […]
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Advantest erweitert die V93000 Plattform mit neuer Instrumentierung für softwarebasierte Funktions- und HSIO SCAN-Tests
Advantest Corporation (TSE: 6857), führender Anbieter von Halbleitertestsystemen, gibt die Einführung seiner neuen Link Scale™ Produktreihe von digitalen Karten für die V93000 Plattform bekannt. Hiermit werden softwarebasierte Funktionstests und USB / PCI Express (PCIe) SCAN-Tests von Halbleitern der nächsten Generation ermöglicht. Die Plattform wird um systemähnliche Test™-Funktionen erweitert und adressiert damit die Herausforderungen an den […]
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Advantest Launches New Channel Cards, Adding Software-Based Functional Test and HSIO SCAN Test to the V93000 Platform
Leading semiconductor test equipment supplier Advantest Corporation (TSE: 6857) has launched its new Link Scale™ family of digital channel cards for the V93000 platform, enabling software-based functional testing and USB/PCI Express (PCIe) SCAN testing of advanced semiconductors. The new cards address testing challenges that require these interfaces to run in full protocol mode, adding system-like […]
continue readingAdvantest erwirbt R&D Altanova
Advantest Corporation (TSE: 6857), führender Anbieter von Halbleiter-Testsystemen, gab den Abschluss einer Vereinbarung zur Übernahme der US-amerikanischen R&D Altanova, Inc. ("R&D Altanova") bekannt. R&D Altanova ist ein führender Anbieter von Test Interface Boards, Substraten und Verbindungstechnologien für High-End-Anwendungen. Das Unternehmen bietet Simulation, Design, Layout, Herstellung und Montage von Test Interface Boards an, die in Testgeräten […]
continue readingAdvantest Acquires R&D Altanova
Leading semiconductor test equipment supplier Advantest Corporation (TSE: 6857) (“the Company”) has announced that it has entered into an agreement to acquire US based R&D Altanova, Inc. (“R&D Altanova”). R&D Altanova is a leading supplier of consumable test interface boards, substrates and interconnects for high-end applications, offering simulation, design, layout, fabrication and assembly of test […]
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Advantest Issues Call for Papers for VOICE 2022 Developer Conference in Scottsdale, Arizona
Leading semiconductor test equipment supplier Advantest Corporation (TSE: 6857) has issued an international call for papers for its VOICE 2022 Developer Conference focusing on leading-edge technologies and advanced test trends. The conference will be held in Scottsdale, Arizona, on May 17-18, 2022, with an additional day of interactive technical workshops. VOICE is the leading conference […]
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Advantest kündigt TAS7400TS Option mit erhöhter Frequenzauflösung an
Advantest Corporation (TSE: 6857), führender Anbieter von Halbleiter-Testsystemen, hat eine Hochfrequenzauflösungsoption für sein optisches Terahertz-Probenentnahme-Analysesystem TAS7400TS angekündigt. Die neue Option zeichnet sich durch ein hervorragendes Preis-Leistungsverhältnis und einfache Bedienung aus. Sie bietet ein innovatives Messverfahren zur Bestimmung der Hochfrequenzeigenschaften von Funkwellenabsorbern sowie speziellen Materialien. Diese hochwertigen Komponenten sind für die Kommunikationstechnologie der nächsten Generation 6G […]
continue readingAdvantest und PDF Solutions haben eine neue Lösung für dynamische parametrische Tests vorgestellt
Advantest Corporation (TSE: 6857), führender Anbieter von Halbleiter-Testsystemen und PDF Solutions Inc. (Nasdaq: PDFS), ein führender Anbieter von umfassenden Datenlösungen für das Halbleiter-Ökosystem, haben ihre erste gemeinsam entwickelte Lösung seit der Gründung ihrer Partnerschaft im Juli 2020 präsentiert. Das neue Advantest Cloud Solutions (ACS) „Dynamic Parametric Test (DPT) powered by PDF Exensio®“ Produkt wird bereits […]
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