Zur LASER World of PHOTONICS in München vom 26. bis 29. April 2022 stellt der Jenoptik-Konzern Produktneuheiten vor, die vor allem in der Halbleiterindustrie, Medizintechnik und Lasermaterialbearbeitung für mehr Effizienz und größerer Leistung sorgen. Neben neuen Optiken und Strahlaufweitern informiert Jenoptik mittels Live-Demonstration zum optischen System JENvelt^®. Ausgestellt wird zudem die neueste Generation der UFO Probe^® Card, einer smarten Test-Lösung für PIC Wafer-Level-Testing.

Anhand einer Miniaturvariante des Mars-Rovers „Perseverance“ können sich Messebesucher zudem über die optischen Technologien und Produkte informieren, die Jenoptik-Ingenieure für die aktuelle „Mars 2020“-Mission der NASA entwickelt, getestet und gefertigt haben.

Besuchen Sie uns vom 26. bis 29. April 2022 auf der LASER World of PHOTONICS in München am Stand #B5.241.

Produktneuheiten für die Lasermaterialbearbeitung

Mit der neuen APTAline^TM-Reihe bietet der Photonik-Spezialist Jenoptik F-Theta-Objektive, die sehr gut auf Kundenanforderungen zugeschnitten sind. Damit reagiert Jenoptik auf sich stetig ändernde Bedarfe am Markt und erhöht mit der neuen F-Theta-Reihe die Applikationsbreite. Die High-Power-Objektive aus Quarzglas bieten eine kostenoptimierte Alternative für anspruchsvollen Anwendungen, bei denen Zuverlässigkeit, Serienstabilität und Langlebigkeit zählen. Sie sind mit den Wellenlängen 355 nm und 1030-1080 nm erhältlich. Die APTAline^TM-Objektive basieren auf dem bewährten Mechanik- sowie Optik-Design von Jenoptik und unterliegen den gleichen hohen Qualitätsstandards wie bestehende F-Theta-Produkte. 

Im Bereich der Strahlaufweitung ergänzen die Fix-BEX Beam Expander mit fester Vergrößerung das Produktportfolio von Jenoptik. Egal ob als 1,5x, 2x, 4x oder 8x -Version verbaut: Sie zeigen sich als gute Wahl für Applikationen, bei denen ein gleichbleibender Zoomfaktor und eine klare, stabile Laserleistung gefordert sind. Fix-BEX Strahlaufweiter sind für Wellenlängen von 355 nm, 515…540 nm oder 1030…1080 nm verfügbar und bieten eine große Eingangslaserleistung (Apertur) von bis zu 8 mm (1/e²). Das hochpräzise optische Design sorgt für eine beugungsbegrenzte Abbildung und verhindert internen Foki. Wie die bestehenden Strahlaufweiter verfügen auch die neuen Fix-BEX-Ausführungen über eine Divergenz-Einstellung.

Für hohe Widerstandfähigkeit und Langlebigkeit sind die Gehäuse aus Aluminium bzw. Edelstahl gefertigt. Die optischen Elemente bestehen aus robustem Quarzglas mit AR-Coating. Alle Fix-BEX-Ausführungen sind mit Gewinde an beiden Seiten versehen und können im umgekehrten Modus betrieben werden.

Optoelektronische Lösung für das Wafer-Level-Testing

Die optoelektronische UFO Probe^® Card von Jenoptik bietet Wafer-Herstellern bzw. Anbietern von Wafer-Test-Ausrüstung eine zeitsparende und Ausbeute erhöhende Lösung für ein synchrones Testen von elektronische sowie photonischen Bauteilen – und das mit einer einzigen Testkarte. Die UFO Probe^® Card ist so konzipiert, dass sie auf bestehender Test-Infrastruktur von elektronischen Bauteilprüfung, funktioniert. Das ermöglicht ein schnelles und einfaches Umrüsten vom elektrischen auf ein opto-elektrisches Testen ohne zusätzlichen Rüstaufwand. Die Prüfkarte vereint ein Optik-Modul zur Funktionsprüfung von photonisch integrierten Schaltkreisen (PICs) und ein klassischen Nadeltester zur Prüfung von elektronischen Komponenten. Auch paralleles Testen mehrerer Chips ist mit der UFO-Probe^® Card angedacht und erlaubt eine effiziente Herstellung von leistungsfähigen Chips vor allem in der Hochvolumen-Produktion.