Advantest Corporation (TSE: 6857), führender Anbieter von Halbleiter-Testsystemen, hat eine Hochfrequenzauflösungsoption für sein optisches Terahertz-Probenentnahme-Analysesystem TAS7400TS angekündigt. Die neue Option zeichnet sich durch ein hervorragendes Preis-Leistungsverhältnis und einfache Bedienung aus. Sie bietet ein innovatives Messverfahren zur Bestimmung der Hochfrequenzeigenschaften von Funkwellenabsorbern sowie speziellen Materialien. Diese hochwertigen Komponenten sind für die Kommunikationstechnologie der nächsten Generation 6G und Millimeterwellen-Radartechnologien für ADAS Anwendungen (Advanced Driver Assistance Systems) unerlässlich.

Vektorielle Netzwerkanalysatoren (VNAs) werden häufig zur Bestimmung der Übertragungseigenschaften (Transmissions-, Reflexionsfaktor) und der komplexen Dielektrizitätskonstante verschiedener Materialien im Millimeterwellen- und Hochfrequenzbereich eingesetzt. In den letzten Jahren ist es jedoch wichtig geworden, diese Eigenschaften über ein breiteres Frequenzspektrum zu bewerten. Aufgrund des nötigen Zeit- und Arbeitsaufwands für die Einstellung und Kalibrierung jedes einzelnen Frequenzbands zeigen sich hier VNAs häufig als problematisch.

Das optische Terahertz-Probenentnahme-System von Advantest löst diese Probleme, indem es mit gepulsten elektromagnetischen Wellen Messungen von Materialproben über ein breites Frequenzband ermöglicht. Die Durchführung der Tests ist jetzt mit einem kompakten optischen Probeentnahme-System in der Messumgebung möglich, was Kosten und Platz spart. Mit Hilfe einer Mapping-Messung können auch Frequenzeigenschaften von Oberflächen analysiert werden. Darüber hinaus sind die Frequenzauflösung und die Abtastgeschwindigkeit der neuen Option 5x so hoch wie beim Vorgängerprodukt, so dass dies eine optimale Lösung für die Bestimmung der Hochfrequenzeigenschaften neuer Materialien ist.

Die Lösung wird auf der Messe JASIS vom 8. bis 10. November und auf der MWE 2021 vom 24. bis 26. November präsentiert werden.

Eckdaten
Frequenzbereich                                  0,03~2 THz (Bandbreite (SNR = 1))
Frequenzauflösung                   380 MHz (Vorgängerprodukt: 1,9 GHz)
Abtastgeschwindigkeit               40 ms / Scan (Vorgängerprodukt: 200 ms / Scan)
Messgrößen                                      Transmissionsfaktor, Reflexionsfaktor, Phasendifferenz, komplexe Dielektrizitätskonstante, Verlustfaktor (tanδ)

Über die Advantest Europe GmbH

Advantest (TSE: 6857) ist der führende Hersteller von automatischen Testsystemen und Messgeräten, die in Halbleiterdesgin und der -fertigung für Anwendungen wie 5G-Kommunikation, Internet der Dinge (IoT), autonomes Fahren, künstliche Intelligenz (KI), maschinelles Lernen, intelligente medizinische Geräte und vieles mehr eingesetzt werden. Die führenden Systeme und Produkte des Unternehmens werden in die fortschrittlichsten Halbleiterfertigungslinien weltweit integriert. Das Unternehmen betreibt Forschung & Entwicklung, um neuesten Testanforderungen gerecht zu werden. Advantest produziert Multi-Vision Rasterelektronenmikroskope, die für die Herstellung von Fotomasken essenziell sind, und bietet bahnbrechende Werkzeuge für 3D Bildgebung und -analyse an. Das Unternehmen wurde 1954 in Tokio gegründet und ist ein globales Unternehmen mit weltweiter Präsenz, das sich nachhaltiger Prozesse und sozialer Verantwortung verpflichtet fühlt. Weitere Informationen finden Sie unter www.advantest.com.

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