Verlässlich, präzise, innovativ
MicroView und MicroView+ stellen die neueste Entwicklung an 3D-Profilometern dar. Im Farbmodus lassen sich Defekte besser lokalisieren und dokumentieren für eine differenziertere Oberflächenanalyse anhand farbiger Mikroskopbilder. Erfassen Sie selbst feinste Oberflächendetails mit einer Auflösung im Sub-Nanometerbereich.
Die CST Continuous Scanning Technologie erlaubt den erweiterten Verfahrweg von 100 mm komplett als vertikalen Messbereich auszunutzen für eine kontinuierliche Erfassung der Höhendaten. Die Präzisions-Z-Achse bietet mehr Freiheiten beim Positionieren, beschleunigt die Messvorbereitungen und ist vorteilig in der Wartung.

Um das Messobjekt stets im Fokus zu haben, helfen Focus Finder und Focus Tracker zum automatisierten Repositionieren, was Zeit für den Messvorgang und Positionieren einspart. Mit dem voll motorisierten Zubehör für die präzise Positionierung in X, Y, Z sowie der Kipp-Neige-Plattform behält der Fokus Tracker stets den eingestellten Fokus und gewährleistet wiederholgenaue und reproduzierbare Messergebnisse ungeachtet der Messposition.

Da die unmittelbare Umgebung des Messgerätes für unterschiedliche Nutzer und Einsatzorte variiert, bietet das MicroView+ mit seinem modularen Konzept bewusst diverse Freiheitsgrade, um beispielsweise bis zu 370 mm hohe Proben aufnehmen zu können. Für automatisierte Fertigungskontrollen lässt sich der Messkopf auch direkt in die Produktionslinie integrieren.

Die neuen optische 3D-Oberflächenmessgeräte TopMap MicroView und MicroView+ prüfen feinste
Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen mit einer Auflösung im
Nanometerbereich.

TopMap MicroView steht für die intuitive Oberflächencharakterisierung – egal ob im Messlabor oder in rauer Produktionsumgebung.

Mit neuer Präzisions-Z-Achse und CST Continuous Scanning Technology nutzt MicroView den
gesamten vertikalen Verfahrweg komplett als Z-Messbereich aus, während Focus Finder und Focus Tracker stets den optimalen Fokuspunkt auf der Probe halten.