Das LGS 650 wurde speziell für die Bestimmung der winkelabhängigen Abstrahlcharakteristik von mittleren bis großen SSL-Quellen und LED-Modulen entwickelt und bietet eine kostengünstige Alternative zum größeren LGS 1000. Der Prüfling wird in einer horizontalen Brennlage vermessen und über einen Winkelbereich von ± 160 ° in Abstrahlrichtung des Prüflings um die Gamma-Achse verfahren. Die hohe Winkelauflösung von 0.01 ° spannt ein sehr feines Messgitter auf und garantiert höchst präzise und reproduzierbare Messdaten. Das LGS 650 erlaubt das Anbringen von Proben bis zu einem Durchmesser von 1300 mm und einem Maximalgewicht von 10 kg und ist konform mit allen relevanten Spezifikationen in CIE, DIN und IES Normen.

Zusammen mit einem Spektralradiometer von Instrument Systems, wie z.B. dem CAS 140D, werden sowohl radiometrische und farbmetrische als auch photometrische Kenngrößen mit größter Präzision winkelabhängig bestimmt. Für die Anforderung von besonders zeitkritischen Messungen bietet Instrument Systems passende Photometer an, wie z.B. das neue DSP 200. Diese können die Messwerte "on the fly" erfassen, d.h., während das Goniophotometer kontinuierlich in Bewegung ist.

Das LGS 650 wird über das Goniophotometer-Modul der SpecWin Pro-Software betrieben, das zwei Messabläufe zur Verfügung stellt: den Sequenzmodus und den Serienmodus. In beiden Fällen regelt die Software die Bestromung und Ansteuerung des Prüflings und nimmt elektrische Messdaten auf. Spannung, Stromstärke, Einschalt- und Einbrennvorgang sowie die Sequenzabfolge sind dabei speicherbare Voreinstellungen und können für wiederkehrende Messaufgaben erneut abgerufen werden. Die Software SpecWin Pro verfügt über verschiedene Darstellungsmöglichkeiten der räumlichen Abstrahlcharakteristik: radial, halb-radial, kartesisch, sphärisch und 3-D. Die Messprotokolle sind frei konfigurierbar und können auch in weitere Formate wie IES und EULUMDAT exportiert werden, um sie in Simulationsprogrammen zu verwenden.

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